教材：
《VLSI测试方法学和可测性设计》，雷绍充 著， 电子工业出版社，2005年
参考教材：
[1] 《超大规模集成电路测试》，雷绍充 邵志标 梁峰 著， 电子工业出版社，2008年
[2] 《Testing of Digital Systems》，Niraj，Sandeep Gupta，Cambridge University Press，2003
[3] 《Digital Systems Testing and Testable Design》，M.Abramovici, M.A.Breuer, A.D.Friedman，Computer Science Press，1995
