通过本课程，学生能够掌握以下知识：电路测试和分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，随机和伪随机的测试原理、各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，内建自测试原理，存储器测试算法与原理、常用微处理器的结构和测试方法、SoC等的可测性设计方法。
2019年“课程思政”示范课程申报
2019年“课程思政”示范课程申报
通过本课程，学生能够掌握以下知识：电路测试和分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，随机和伪随机的测试原理、各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，内建自测试原理，存储器测试算法与原理、常用微处理器的结构和测试方法、SoC等的可测性设计方法。
